Oscillateurs et quartz
Un oscillateur est un circuit générateur de signaux sinusoïdaux de fréquence calculée. Son principe repose sur la réinjection en phase d'une partie du signal amplifié sur l'entrée du circuit. Il existe des oscillateurs à fréquence fixe - à quartz (VXO) - et à fréquence variable : commandés mécaniquement par un condensateur variable (VFO), par la variation de tension sur une diode Varicap (VCO) ou électroniquement avec un synthétiseur (PLL et, plus récemment, DDS).
Le quartz se trouve à l'état naturel sous forme de cristaux de silice (SiO₂). Le composant est une lamelle de roche de quartz taillée, coincée entre les deux plaques d'un condensateur. Il fonctionne grâce à l'effet piézo-électrique : une pression sur les faces fait apparaître des charges électriques ; inversement, une tension appliquée dilate ou contracte la lame selon la polarité. Quand la fréquence de la tension coïncide avec la fréquence propre de la lame - liée à ses dimensions - il y a résonance.
La vitesse de propagation du courant dans la masse du quartz est d'environ 5 700 mètres divisé par s. La lame résonne en demi-onde (l'onde fait un aller-retour dans la masse) : f(MHz) égale 5,7 divisé par [2 fois e(mm)], où e est l'épaisseur de la lame en millimètres.
Par construction, les quartz ne fonctionnent que jusqu'à 30 mégahertz : au-delà, la lamelle (1/10 mm d'épaisseur) devient trop mince et fragile. Pour obtenir une fréquence d'oscillation supérieure, on utilise un VCO asservi par un circuit PLL.
Les facteurs qui affectent la stabilité des oscillateurs : les variations de la tension d'alimentation, les variations de température des composants (en particulier transistors et quartz) et les défauts de blindage des boîtiers (effet de main).
Exemple type examen
Lame de quartz de 0,3 millimètres d'épaisseur : f = 5,7 / (2 × 0,3) = 5,7 / 0,6 = 9,5 mégahertz.
Le fréquencemètre mesure la fréquence en comptant les périodes pendant une durée connue et stable : plus cette durée est longue, plus l'affichage est fin ; la précision dépend de la stabilité de la durée de mesure.
